產品簡介
三豐表面粗糙度/輪廓測量儀 SV-C3100大幅提高的驅動速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進一步減少了總的測量時間。為了更長時間地保持直線度，三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅固的陶瓷導軌

詳細介紹



Formtracer(表面粗糙度/輪廓測量裝置)SV-C3100/SV-C4100 

簡單介紹 
三豐表面粗糙度/輪廓測量儀 SV-C3100大幅提高的驅動速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進一步減少了總的測量時間。
為了更長時間地保持直線度，三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅固的陶瓷導軌；驅動器 (X 軸) 和立柱 (Z2 軸) 均配備了高精度線形編碼器 (其中Z2 軸上為ABS 型)。因此，在垂直方向對小孔連續(xù)自動測量、對較難定位部件的重復測量的重復精度得以提高。 

特長：
本機為電動型支柱，觸針式輪廓形狀、表面粗度量測兩用的復合機。
輪廓形狀量測用Z軸檢出器搭載Holographic光學尺（SV-C4100）、反射型光學尺（SV-C3100）。
表面粗度量測用Z軸檢出裝置，可對應ISO/新JIS。
檢出器的滑動部為2段式，可提升檢出器交換時的操作性。
資料處理軟體，可做高難度的輪廓形狀、粗度的評價解析。
資料處理裝置的通訊系統(tǒng)使用RS-232C。 

表面粗糙度測量

直線度:±(0.05+0.001L)μm*專用于需要高精度測量的工件。

*S4型、H4型、W4型；L為驅動長度(mm)

符合JIS'82/'94/'01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的國際標準。

標準配置：高精度測頭(0.75mN/4mN測力)，分辨率高至0.0001μm。

 

自動測量

在與CNC機型配套使用的眾多外設選件的支持下，可實現自動測量。

 

輪廓驅動測量

X軸精度:±(0.8+0.01L)μm*Z1軸精度:±(0.8+I0.5HI/25)μm*專用于需要高精度測量的工件。

*SV-C4100S4型、H4型、W4型；L為驅動長度,H為測量高度(mm)

SV-C4100系列的輪廓驅動器配備了激光全息測微計測頭，Z1軸寬／窄范圍均能達到極高的精度和分辨率。

 

基本技術參數:

基座尺寸(WxH):750x600mm或1000x450mm

基座材料:花崗巖

重量

 主機:140kg(S4),150kg(H4),220kg(W4)

140kg(S8),150kg(H8),220kg(W8)

 控制器:14kg

 遙控箱:0.9kg

電源:100–240VAC±10%,50/60Hz

能耗:400W(主機)

 

輪廓測量技術參數:

X軸

 測量范圍:100mm或200mm

 分辨率:0.05μm

 檢測方法:反射型線性編碼器

 驅動速度:80mm/s、外加手動

 測量速度:0.02-5mm/s

 移動方向:向前／向后

 直線度:0.8μm/100mm,2μm/200mm

*以X軸為水平方向上

 直線位移:±(1+0.01L)μm(SV-C3100S4,H4,W4)

 精度(20°C時)±(0.8+0.01L)μm(SV-C4100S4,H4,W4)

±(1+0.02L)μm(SV-C3100S8,H8,W8)

±(0.8+0.02L)μm(SV-C4100S8,H8,W8)

*L為驅動長度(mm)

 傾角范圍:±45°

Z2軸(立柱)

 垂直移動:300mm或500mm

 分辨率:1μm

 檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器

 驅動速度:0-20mm/s、外加手動

Z1軸(檢測器)

 測量范圍:±25mm

 分辨率:0.2μm(SV-C3100),

 0.05μm(SV-C4100)

 檢測方法:線性編碼器(SV-C3100),

 激光全息測微計(SV-C4100)

 直線