特價供應(yīng)HP4291B/HP4291B阻抗分析儀周小姐18927419011
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HP4291B主要特性與技術(shù)指標(biāo) 
4個元件測試夾具（被測件尺寸：0.5mm至20mm） 
HP4291B獨立選擇2個通道的參數(shù) 
直接讀取介電常數(shù)、導(dǎo)磁率（選件） 
2個材料夾具（工作溫度：-55至+200攝氏度） 
多功能分析（溫度、科爾-科爾圖表、松弛時間） 
掃描參數(shù)（頻率、交流電平、直流偏置、溫度）
HP4291B描述 
Agilent4291B射頻阻抗/材料分析儀是針對表面封裝元器件和介電/磁性材料的高精度測量的完整解決方案。與反射測量技術(shù)不同，Agilent
4291B使用直接的電流－電壓測量技術(shù)，可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結(jié)果。
基本阻抗精度是+/-0.8%。高Q精度有利于進行低損耗元器件分析。內(nèi)置合成器掃頻范圍從1MHz到1.8GHz，具有1MHz的分辨率。1.8米長的精
密電纜可將分析儀連接到測試站，以便您將測試點延伸到分析儀之外，而不會影響測量精度。先進的矩陣和錯誤補償功能消除了夾具的測量錯
誤，確保DUT/MUT的高精度和可重復(fù)性。
Agilent4291B還提供自動電平精度控制和用IBASIC程序功能監(jiān)視測試信號；可在恒壓或恒流下測量器件。用可選的直流偏置(達40V和100mA)使
測量偏置獨立于阻抗特性。只要按一個按鈕，內(nèi)裝的等效電路分析功能就自動計算5種電路模型的電路常數(shù)值。
Agilent4291B有2個測量通道；每一個通道都可設(shè)置為測量1個(即Z)或2個(即Z-theta)阻抗參數(shù)。具有分割顯示的彩色TFT可顯示有效示蹤和存








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