介電常數介質損耗測試儀是依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作，并符合JB 7770等試驗方法。

介電常數介質損耗測試儀的創(chuàng)新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了完美的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。

    介電常數介質損耗測試儀作為最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內最高的160MHz。采用了多項領先技術：

1.    雙掃描技術  -  測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

2.    雙測試要素輸入  -  測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。

3.    雙數碼化調諧  -  數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

4.    自動化測量技術  -對測試件實施  Q  值、諧振點頻率和電容的自動測量。

5.    全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、  Q  值、信號源頻率、諧振指針。

6.    DDS 數字直接合成的信號源  -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

7.    計算機自動修正技術和測試回路最優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至最低，徹底根除  Q  讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。   

介電常數介質損耗測試儀技術參數

Q 值測量范圍：   2～1023  ， 量程分檔：  30、100、300、1000，自動換檔或手動換檔

固有誤差≤5％±滿度值的2  ％（200kHz～10MHz），≤6％±滿度值的2％（10MHz～160MHz）

工作誤差≤7％±滿度值的2％（200kHz～10MHz），≤8％±滿度值的2％（10MHz～160MHz）

電感測量范圍：        4.5nH  ～  140mH 

電容直接測量范圍：1  ～  200pF 

主電容調節(jié)范圍：  18  ～  220pF 

主電容調節(jié)準確度：120pF以下±1.2pF  ；  120pF以上±1％

信號源頻率覆蓋范圍：  100kHz～160MHz 

頻率分段（虛擬）：  100～999.999kHz  ，  1～9.99999MHz，10～99.9999MHz，  100～160MHz 

頻率指示誤差：    3×10-5±1個字 

測試夾具參數：

平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選   
極片間距可調范圍：≥15mm 
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm 
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 
4．測微桿分辨率：0.001mm

電感組參數：

線圈號      測試頻率                  Q值        分布電容p            電感值   
  9         100KHz             98       9.4               25mH
  8         400KHz           138     11.4             4.87mH
  7         400KHz